Aussteller-Pressemitteilung
PRODUKTNEUHEIT: reflectCONTROL
MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GmbH & Co. KG
Die reflectCONTROL Sensoren von Micro-Epsilon ermöglichen eine präzise 3D-Oberflächeninspektion und Defekterkennung auf hochreflektierenden und transparenten Oberflächen. Mittels phasenmessender Deflektometrie erzeugen sie aus einem projizierten Streifenmuster eine 3D-Punktewolke, die Unebenheiten, Kratzer und kleinste Abweichungen sichtbar macht. Der für Produktionslinien optimierte RCS130-160 3D HLP verfügt über eine GigE-Vision-Schnittstelle für eine nahtlose Integration in bestehende Bildverarbeitungssysteme. Mit einer z-Auflösung im Nanometerbereich, einer Wiederholpräzision < 1 µm und bis zu 5 Mio. 3D-Datenpunkten eignet sich das System unter anderem für die Formmessung an Wafern sowie die Inspektion lackierter Automobilteile.
Kontakt:
MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GmbH & Co. KG
Ansprechpartner: Thomas Kitzlinger
Telefon: +49 8542 / 168 - 221
Mail: thomas.kitzlinger@micro-epsilon.de
